產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 島津原子吸收光譜儀AA-7800技術(shù)特點(diǎn)與應(yīng)用解析
- 一文讀懂貴金屬元素分析儀的校準(zhǔn)與維護(hù)要點(diǎn)
- 愛斯佩克TSD-101-W：冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備
- X射線熒光鍍層測厚儀在金屬鍍層檢測中的優(yōu)勢分析
- 選型指南：臺(tái)式溶液色差儀
- 安捷倫 E4982A 高頻阻抗 LCR 測試儀：現(xiàn)貨供應(yīng)
- ROHS檢測光譜儀在電子電器產(chǎn)品中的應(yīng)用
- 精準(zhǔn)測量之選-尼克斯Qnix450
- 全新現(xiàn)貨：安捷倫E4982A射頻LCR測試儀
- 安捷倫臺(tái)式LCR:是德科技E4982A
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。 -
X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果*確至μin； 快速無損測量，測量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進(jìn)行貴金屬檢測。 -
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。 -
日本島津超聲波光學(xué)金屬表面探傷儀 島津的光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子和頻閃觀測器相結(jié)合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動(dòng)，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光學(xué)相機(jī)實(shí)現(xiàn)可視化，從而根據(jù)超聲波的間斷來檢測出缺陷。超聲波光學(xué)探傷裝置MIV-X可以使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷可視化。 -
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
-
TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導(dǎo)、損耗、絕緣的面電阻
